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產(chǎn)品資料

常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀
產(chǎn)品型號: TH-511
產(chǎn)品展商: 常州同惠
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀 TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。 TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀**性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集成測試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。


常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀  的詳細(xì)介紹

常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀概述:

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀**性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集成測試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz, VGS電壓可達(dá)±40V,足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測試分析。得益于10.1英寸、分辨率達(dá)1280*800的電容式觸摸屏,TH510系列半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀可將四個參數(shù)同屏顯示、所有設(shè)置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示,避免了頻繁的切換的操作。

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常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀功能特點(diǎn):

A.單點(diǎn)測試,10.1英寸大屏,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細(xì)節(jié)一覽無遺

10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN接口,帶來了無以倫比的操作便捷性。

MOSFET*重要的四個寄生參數(shù):Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個界面直接顯示測量結(jié)果,并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示,一目了然。

多至6個通道測量參數(shù)可快速調(diào)用,分選結(jié)果在同一界面直接顯示。

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B.列表測試,靈活組合

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持*多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析,列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合,并可設(shè)置極限范圍,并顯示測量結(jié)果 。

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C.曲線掃描功能(選件)

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

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D.簡單快捷設(shè)置

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E.10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提供了10檔分選,為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能,分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。

在與自動化設(shè)備連接時,怎么配置HANDLER接口輸出,一直是自動化客戶的難題,TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應(yīng)信號、應(yīng)答方式等完全可視化,讓自動化連接更簡單。

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F.支持定制化,智能固件升級方式

同惠儀器對于客戶而言是開放的,儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計,客戶可自行編程集成或進(jìn)行功能定制,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等,都可以通過升級固件(Firmware)來進(jìn)行更新,而無需返廠進(jìn)行。

固件升級非常智能,可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行,智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包,并自動進(jìn)行升級

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G.半導(dǎo)體元件寄生電容知識

在高頻電路中,半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會影響半導(dǎo)體的動態(tài)特性,所以在設(shè)計半導(dǎo)體元件時需要考慮下列因數(shù)

在高頻電路設(shè)計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性;寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計中也是至關(guān)重要,以MOSFET為例。

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H.標(biāo)配附件

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常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀技術(shù)參數(shù):

產(chǎn)品型號

TH511

TH512

TH513

通道數(shù)

2(可選配4/6通道)

2

顯示

顯示器

10.1英寸(對角線)電容觸摸屏

比例

16:9

分辨率

1280×RGB×800

測量參數(shù)

CISS、COSS、CRSS、Rg,四參數(shù)任意選擇

測試頻率

范圍

10kHz-2MHz

精度

0.01%

分辨率

10mHz                                     1.00000kHz-9.99999kHz

100mHz                                   10.0000kHz-99.9999kHz

1Hz                                          100.000kHz-999.999kHz

10Hz                                        1.00000MHz-2.00000MHz

測試電平

電壓范圍

5mVrms-2Vrms

準(zhǔn)確度

±10%×設(shè)定值+2mV

分辨率

1mVrms                                    5mVrms-1Vrms

10mVrms                                  1Vrms-2Vrms

VGS電壓

范圍

0 - ±40V

準(zhǔn)確度

1%×設(shè)定電壓+8mV

分辨率

1mV                                           0V - ±10V

10mV                                        ±10V -±40V

VDS電壓

范圍

0 - 200V

0 - 1500V

0 - 3000V

準(zhǔn)確度

1%×設(shè)定電壓+100mV

輸出阻抗

100Ω,±2%@1kHz

數(shù)學(xué) 運(yùn)算

與標(biāo)稱值的**偏差Δ,與標(biāo)稱值的百分比偏差Δ%

校準(zhǔn)功能

開路OPEN、短路SHORT、負(fù)載LOAD

測量平均

1-255

AD轉(zhuǎn)換時間(ms/次)

快速+0.56ms(5kHz) 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms

*高準(zhǔn)確度

0.1%(具體參考說明書)

CISS、COSS、CRSS

0.00001pF - 9.99999F

Rg

0.001mΩ - 99.9999MΩ

Δ%

±0.000% -   999.9%

多功能參數(shù)列表掃描

點(diǎn)數(shù)

20點(diǎn),每個點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù),每個點(diǎn)可單獨(dú)分選

參數(shù)

測試頻率、Vg、Vd、通道

觸發(fā)模式

順序SEQ:當(dāng)一次觸發(fā)后,在所有掃描點(diǎn)測量,/EOM/INDEX只輸出一次

步進(jìn)STEP:每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點(diǎn)測量,每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結(jié)果只在*后的/EOM才輸出

圖形掃描

掃描點(diǎn)數(shù)

任意點(diǎn)可選,*多1001點(diǎn)

結(jié)果顯示

同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線

顯示范圍

實(shí)時自動、鎖定

坐標(biāo)標(biāo)尺

對數(shù)、線性

掃描參數(shù)

Vg、Vd

觸發(fā)方式

單次

手動觸發(fā)一次,從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成,下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描

連續(xù)

從起點(diǎn)到終點(diǎn)無限次循環(huán)掃描

結(jié)果保存

圖形、文件

比較器

Bin分檔

10Bin、PASS、FAIL

Bin偏差設(shè)置

偏差值、百分偏差值、關(guān)

Bin模式

容差

Bin計數(shù)

0-99999

檔判別

每檔*多可設(shè)置四個參數(shù)極限范圍,四個測試參數(shù)結(jié)果設(shè)檔范圍內(nèi)顯示對應(yīng)檔號,超出設(shè)定*大檔號范圍則顯示FAIL,未設(shè)置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別

PASS/FAIL指示

滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮,否則FAIL燈量

存儲調(diào)用

內(nèi)部

100M非易失存儲器測試設(shè)定文件

外置USB

測試設(shè)定文件、截屏圖形、記錄文件

鍵盤鎖定

可鎖定前面板按鍵,其他功能待擴(kuò)充

接口

USB HOST

2USB HOST接口,可同時接鼠標(biāo)、鍵盤,U盤同時只能使用一個

USB DEVICE

通用串行總線插座,小型B類(4個接觸位置);與USB TMC-USB488USB2.0相符合,陰接頭用于連接外部控制器。

LAN

10/100M以太網(wǎng),8引腳,兩種速度選擇

HANDLER

用于Bin分檔信號輸出

RS232C

標(biāo)準(zhǔn)9針,交叉

RS485

可以接收改制或外接RS232轉(zhuǎn)RS485模塊

開機(jī)預(yù)熱時間

60分鐘

輸入電壓

100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz

功耗

不小于130VA

尺寸(WxHxDmm

430x177x405

重量

16kg


常州同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀應(yīng)用:

 半導(dǎo)體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光

電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

 半導(dǎo)體材料

晶圓、C-V特性分析

 液晶材料

彈性常數(shù)分析

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